认识静电三部曲之二——静电的危害和带来的困扰

    静电的危害分为突发失效和潜在失效两类，后者危害性更大。常见的危害如下：

1   MOS结构的元器件，由静电荷过高引起的介质击穿，造成短路（高泄露）；

2   半导体结构的元器件，由过热引起的微等离子区二次击穿，造成微扩散；

3   膜电阻器结构的元器件，由于介质击穿，与电压有关的新电流通路的形成；

4   金属化条结构的元器件（混合IC 单片IC），静电造成与焦耳热有关的开路；

5   压电晶体结构的元器件，受静电干扰引起机械压力震荡过大造成晶体断裂。

企业遇到的静电困扰

1   静电危害造成成品半成品报废--------导致经济成本损失

2   持续投入费用然而预防效果不理想------如何准确发现静电产生的根源

3   处于创业成长期的企业--------配备专业人员及购买测试仪器，成本费用太大

4   处于发展期规模企业---ESD现场日常管理难度大不规范，部门之间相互推诿

5   客户考察生产现场-------ESD审核不通过     

    企业遇到的静电困扰问题，根源是解决静电对策的思路问题，简单有效的办法-----把专业的问题交给专业的公司，筛选适合本公司的较优方案，分阶段有步骤落实推进 ——VESD静电压监测系统是斯泰科微自主研发的第三代控制系统，由MES传感器硬件（如传感器探头，监测主机，无线智能信息收发器等），PC终端显示+工控电脑三部份组成。